Bộ Tư pháp Mỹ hôm 28/8 cho biết Guan Lei, nhà nghiên cứu người Trung Quốc tại Đại học California, đã bị bắt với cáo buộc hủy bằng chứng trong cuộc điều tra FBI. Trong khi đó, Haizhou Hu bị bắt với cáo buộc đánh cắp bí mật thương mại.
Ảnh chụp màn hình
Bộ Tư pháp Mỹ cho biết trong một tuyên bố, Guan Lei, 29 tuổi, ở Alhambra, California bị bắt sau khi bị phát hiện đã ném một ổ cứng bị hỏng vào thùng rác bên ngoài căn hộ của mình hồi tháng 7.
“Guan đang bị điều tra vì có thể đã chuyển phần mềm hoặc dữ liệu kỹ thuật nhạy cảm của Mỹ cho Đại học Công nghệ Quốc phòng Trung Quốc”, Bộ Tư pháp cho biết. Ngoài ra, Guan có thể đã khai man về quan hệ giữa anh ta với quân đội Trung Quốc trong đơn xin thị thực và các cuộc phỏng vấn với đặc vụ Cục Điều tra Liên bang Mỹ (FBI).
Anh Guan đã ra hầu tòa lần đầu tiên hôm 28/8 và dự kiến phiên toà tiếp theo sẽ diễn ra vào ngày 17/9. Tội tiêu huỷ chứng cứ có mức án tối đa là 20 năm tù giam.
Vụ thứ hai liên quan đến ông Haizhou Hu, nhà nghiên cứu mô phỏng sinh học và động lực học chất lỏng tại Đại học Virginia. Hindustan Times dẫn thông báo của Bộ tư pháp Mỹ ngày 28/8 cho biết, ông Hu, 34 tuổi, bị bắt với cáo buộc truy cập máy tính trái phép và đánh cắp bí mật thương mại. Vụ bắt giữ diễn ra khi Hu đang tìm cách lên máy bay về Trung Quốc.
Bộ Tư pháp Mỹ cho biết, ông Hu bị bắt vào ngày 25/8 tại sân bay quốc tế O’Hare ở Chicago. Vụ bắt giữ xảy ra sau khi các nhà điều tra rà soát thường kỳ và phát hiện công dân Trung Quốc sở hữu mã phần mềm mô phỏng nghiên cứu trong khi anh ta không được phép sở hữu chúng. Đây là kết quả sau nhiều năm nghiên cứu của các thành viên trong cộng đồng học thuật tại Đại học Virginia.
Tháng trước, Mỹ đã bắt nhà khoa học Trung Quốc Juan Tang với cáo buộc gian lận thị thực. Cô đã khai gian trong đơn xin thị thực Mỹ rằng cô chưa từng phục vụ trong quân đội Trung Quốc. Tuy nhiên, các nhà điều tra đã tìm thấy những bức ảnh chụp Juan trong bộ quân phục Trung Quốc và phát hiện cô từng làm nghiên cứu tại Đại học Quân y Không quân Trung Quốc.